Nakatsuka Shunsuke
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CVPR2021
Glancing at the Patch: Anomaly Localization With Global and Local Feature Comparison
local featureとglobal featureをそれぞれ別のNNより抽出し,その一致度を測ることで異常度算出する教師無し異常検知の枠組み.local featureは画像内のPatchから抽出,global featureはそのPatchを使用しないようにpartial convolutionすることで抽出.
CutPaste: Self-Supervised Learning for Anomaly Detection and Localization
Cutoutを異常検知に適応させたCutpasteを提案.SSL型のADで初めてMVTecで高精度.画像の一部を切り貼りして疑似不良を生成し,識別器を学習するのみという非常に単純な枠組みながらPaDiMに迫る精度.
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